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Ah oui effectivement. Voici le retour complet !

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Samsung based SSDs
Device Model:     Samsung SSD 850 PRO 256GB
Serial Number:    S1SUNSAF926498Y
LU WWN Device Id: 5 002538 8a06cc342
Firmware Version: EXM01B6Q
User Capacity:    256 060 514 304 bytes [256 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
TRIM Command:     Available
Device is:        In smartctl database 7.3/5528
ATA Version is:   ACS-2, ATA8-ACS T13/1699-D revision 4c
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is:    Wed Dec 17 11:16:15 2025 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00)	Offline data collection activity
					was never started.
					Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0)	The previous self-test routine completed
					without error or no self-test has ever 
					been run.
Total time to complete Offline 
data collection: 		(    0) seconds.
Offline data collection
capabilities: 			 (0x53) SMART execute Offline immediate.
					Auto Offline data collection on/off support.
					Suspend Offline collection upon new
					command.
					No Offline surface scan supported.
					Self-test supported.
					No Conveyance Self-test supported.
					Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003)	Saves SMART data before entering
					power-saving mode.
					Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01)	Error logging supported.
					General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time: 	 (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: 	 (  17) minutes.
SCT capabilities: 	       (0x003d)	SCT Status supported.
					SCT Error Recovery Control supported.
					SCT Feature Control supported.
					SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   099   099   010    Pre-fail  Always       -       14
  9 Power_On_Hours          0x0032   097   097   000    Old_age   Always       -       13111
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   091   091   000    Old_age   Always       -       8238
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   097   097   000    Pre-fail  Always       -       151
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   099   099   010    Pre-fail  Always       -       14
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   099   099   010    Old_age   Always       -       14
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   099   099   010    Pre-fail  Always       -       14
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   079   051   000    Old_age   Always       -       21
195 ECC_Error_Rate          0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 CRC_Error_Count         0x003e   100   100   000    Old_age   Always       -       0
235 POR_Recovery_Count      0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       31
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       57320943115

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

The above only provides legacy SMART information - try 'smartctl -x' for more

Bonjour

Il m'a fallu un peu de temps car les attributs S.M.A.R.T. peuvent avoir un sens particulier selon le fabricant (interprétation valeur en pourcentage ou en nombre de secteurs)

Ce type de disque est sorti en 2014 et était vendu avec une garantie constructeur de 10 ans.

Vu la valeur de l'attributs 5 Il semble être en bon état puisqu’il y a peu de secteurs qui ont été ré-alloués (remappés) :

- Attribut 5 : Reallocated Sectors Count Nombre de secteurs réalloués.
Quand le disque dur obtient une erreur de lecture/écriture/vérification sur un secteur,
il note ce secteur comme réalloué et transfère les données vers une zone réservée spéciale (la zone de réserve).
Ce processus est aussi connu sous le nom de remapping et les secteurs réalloués sont appelés remaps.
C’est pourquoi, sur les disques modernes, on ne peut pas voir de « mauvais » blocs lorsqu’on teste la surface du disque (tous les mauvais secteurs sont cachés dans les secteurs réalloués).
Cependant, plus il y a de secteurs réalloués, plus la vitesse d’écriture/lecture diminue.

(D'autres documents disent que l'unité de valeur de l'attribut 5 est un pourcentage.)

Merci pour ta réponse et pour ton aide. Effectivement, j'ai monté mon ordinateur en 2014.
Du coup, si je comprends bien, il n'y a pas à s'inquiéter, mon disque est juste en train de vieillir tranquillement et je n'ai pas à m'en préoccuper tant que ses performances restent correctes.

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Secteurs endommagés sur le disque

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